Publications

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  • Communication dans un congrès

Characterization of black silicon structural and electrical properties for photovoltaics applications

R. Torres, Thomas Derrien, V. Vervisch, Mathieu Halbwax, F. Torregrosa, L. Roux, P. Delaporte, T. Sarnet, M. Sentis

European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium I : Advanced silicon materials research for electronic and photovoltaic applications II, 2010, Strasbourg, France. ⟨hal-00574120⟩

  • Communication dans un congrès

Array of gold nano-dots for electron transport study in molecular electronics

N. Clement, K. Smaali, G. Patriarche, David Troadec, D. Vuillaume

Session thématique champ proche du GDR 2426, Physique quantique mésoscopique, 2010, Paris, France. ⟨hal-00574050⟩

  • Communication dans un congrès

Etude d'une cellule métal/oxyde/pentacène/métal par spectroscopie d'admittance

R. Ledru, D. Zander, B. Grouiez, K. Lmimouni, D. Vuillaume, G. Gelle

4ème Congrès sur les Dispositifs Electroniques Organiques, DIELOR 2010, 2010, Giens, France. ⟨hal-00574077⟩

  • Communication dans un congrès

Comment aborder en pédagogie l'aspect 'système' d'une chaîne télécom ?

Guillaume Ducournau, Christophe Gaquière, T. Flamen

11èmes Journées Pédagogiques du CNFM, 2010, Saint-Malo, France. ⟨hal-00573579⟩

  • Article dans une revue

Silicon-based micromembranes with piezoelectric actuation and piezoresistive detection for sensing purposes in liquid media

Thomas Alava, Fabrice Mathieu, L. Mazenq, Caroline Soyer, Denis Remiens, Liviu Nicu

Journal of Micromechanics and Microengineering, 2010, 20, pp.075014-1-8. ⟨10.1088/0960-1317/20/7/075014⟩. ⟨hal-00549532⟩

  • Article dans une revue

Image reconstruction using a photonic crystal based flat lens operating at 1.55 μm

M. Hofman, D. Lippens, O. Vanbesien

Applied optics, 2010, 49, pp.5806-5813. ⟨10.1364/AO.49.005806⟩. ⟨hal-00548625⟩

  • Article dans une revue

Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications

J. Ratajczak, A. Laszcz, A. Czerwinski, J. Katcki, F. Phillipp, P.A. van Aken, N. Reckinger, Emmanuel Dubois

In this paper, we present results of transmission electron microscopy studies on erbium silicide structures fabricated under various thermal conditions. A titanium cap has been used as a protective layer against oxidation during rapid thermal annealing of an erbium layer in a temperature range of…

Journal of Microscopy, 2010, EM 2008 ‐ XIII International Conference on Electron Microscopy, 237 (3), pp.379-383. ⟨10.1111/j.1365-2818.2009.03264.x⟩. ⟨hal-00549623⟩