Publications

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  • Communication dans un congrès

Near-field microscopy : from MIR to THz

Gabriel Moreno, Antoine Pagies, Damien Ducatteau, Nicolas Clément, Tahsin Akalin, Mathias Vanwolleghem, Jean-Francois Lampin

joint 25th Conference of the Condensed Matter Division of the European Physical Society, and 14èmes Journées de la Matière Condensée, CMD25-JMC14, 2014, Paris, France. 2 p. ⟨hal-01015277⟩

  • Communication dans un congrès

A 1D optomechanical crystal with a complete phononic band gap

Jordi Gomis-Bresco, Daniel Navarro Urrios, Mourad Oudich, Said El-Jallal, Amadeu Griol, Daniel Puerto, Emigdio Chávez-Ángel, Yan Pennec, Bahram Djafari-Rouhani, Francesc Alzina, Alejandro Martinez, Clivia Sotomayor-Torres

Joint 25th Conference of the Condensed Matter Division of the European Physical Society, and 14èmes Journées de la Matière Condensée, CMD25-JMC14, 2014, Paris, France. ⟨hal-01015239⟩

  • Article dans une revue

1 to 220 GHz complex permittivity behavior of flexible polydimethylsiloxane substrate

Pierre-Yves Cresson, Yovan Orlic, Jean-François Legier, Erick Paleczny, Luc Dubois, Nicolas Tiercelin, Philippe Coquet, Philippe Pernod, Tuami Lasri

Coplanar transmission lines (CPW) are realized on polydimethylsiloxane (PDMS) substrate in order to characterize its complex permittivity, from 1 to 220 GHz. By varying the complex permittivity, the propagation constant of the PDMS-CPW calculated with full wave software is matched to those…

IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2014, 24 (4), pp.278-280. ⟨10.1109/LMWC.2013.2295230⟩. ⟨hal-00980037⟩

  • Communication dans un congrès

Thresholdless optical gain using colloidal HgTe nanocrystals

Pieter Geiregat, Arjan Houtepen, Laxmi Kishore Sagar, Christophe Delerue, Dries van Thourhout, Zeger Hens

Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2014, Laser Science to Photonic Applications, 2014, San Jose, CA, United States. paper FTh4C.4, 2 p., ⟨10.1364/CLEO_QELS.2014.FTh4C.4⟩. ⟨hal-00974546⟩

  • Communication dans un congrès

Etude de l'influence de la pointe sur les mesures KFM sur échantillon d'AlGaAs/GaAs

Sylvain Pouch, Nicolas Chevalier, Denis Mariolle, François Triozon, Thierry Melin, Lukasz Borowik

La microscopie à sonde de Kelvin (KFM) est capable de fournir une mesure résolue spatialement et en énergie de la structure de bande en surface d'un matériau. Elle dépend néanmoins fortement des propriétés physiques de la pointe utilisée, propriétés pouvant être la largeur de l'apex, la…

17ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2014, Montauban, France. session 11, papier P-30, 175-176. ⟨hal-00974535⟩

  • Article dans une revue

Back cover

S. Arscott

Lab on a Chip, 2014, 14 (19), pp.3896. ⟨10.1039/C4LC90090A⟩. ⟨hal-02345645⟩