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La sismique réflexion haute résolution, outil complémentaire du radar géologique pour la reconnaissance des souches superficielles
Bogdan Piwakowski, C. Leonard, Isam Shahrour
Revue française de Géotechnique, 2002, 101, pp.23-34. ⟨hal-00140306⟩
Detection of chemical damage in concrete using ultrasound
S. Ould Naffa, Marc Goueygou, Bogdan Piwakowski, François Buyle-Bodin
Ultrasonics, 2002, 40 (1-8), pp.247-251. ⟨10.1016/S0041-624X(02)00146-4⟩. ⟨hal-00140147⟩
Assessment of broadhand ultrasonic attenuation measurements in inhomogeneous media
Marc Goueygou, Bogdan Piwakowski, S. Ould Naffa, François Buyle-Bodin
Ultrasonics, 2002, 40 (1-8), pp.77-82. ⟨10.1016/S0041-624X(02)00094-X⟩. ⟨hal-00140145⟩
Optimisation of abrupt emitter-base junction for heavily Be-doped InP/In0.53Ga0.47As heterojunction bipolar transistor
E. Lefebvre, M. Zaknoune, F. Mollot
14th Indium Phosphide and Related Materials Conference, IPRM 2002, 2002, Sweden. pp.615-618. ⟨hal-00250210⟩
Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates : influence of film thickness and orientation
T. Haccart, Eric Cattan, Denis Remiens
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2002, 5, pp.78-88. ⟨hal-00250395⟩
The linearisation of an electrostrictive device for MEMS applications
D. Jenkins, E. Fribourg-Blanc, Eric Cattan, Denis Remiens
13th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, ISAF 2002, 2002, Japan. pp.479-482. ⟨hal-00250396⟩
Luminescence properties of InAs dots grown by molecular beam epitaxy on metamorphic InxAl1-xAs (0.33 < x < 0.52) buffer layers
D. Vignaud, Y. Cordier, P. Miska, D. Ferré
28th International Symposium on Compound Semiconductors, 2002, Japan. pp.537-542. ⟨hal-00250216⟩
La sismique réflexion haute résolution, un outil pour la reconnaissance des couches superficielles
Bogdan Piwakowski, C. Leonard, I. Shahrour
Revue française de Géotechnique, 2002, 101, pp.23-33. ⟨10.1051/geotech/2002101023⟩. ⟨hal-00250179⟩
Réalisation technologique d’un transistor à effet de champ dans la filière GaN
B. Boudart
Ecole Thématique CNRS : Matériaux Nitrures d'Eléments III, 2002, La Plagne, France. ⟨hal-01654488⟩
Caractérisation de transistors à effet de champ à base de GaN
Christophe Gaquière, Raphaël Aubry, Yannick Guhel, A. Minko, Nicolas Vellas, Matthieu Werquin, B. Boudart, Simone Cassette, Yvon Cordier, Sylvain Laurent Delage, E. Delos, Jean-Claude de Jaeger, Damien Ducatteau, H. Gerard
3ème Ecole Thématique CNRS : Matériaux Nitrures d'Eléments III, 2002, La Plagne, France. ⟨hal-00149714⟩