Publications

• Communication dans un congrès

Triple issues for triple junctions

F. Cleri

Metallphysikalisches Kolloquium am IMM (Institute of Physical Metallurgy and Metal Physics), 2006, Aachen, Germany. ⟨hal-00127949⟩

• Article dans une revue

Photonic crystal lens : from negative refraction and negative index to negative permittivity and permeability

T. Decoopman, G. Tayeb, S. Enoch, D. Maystre, B. Gralak

Physical Review Letters, 2006, 97, pp.073905/1-4. ⟨hal-00127067⟩

• Communication dans un congrès

Etat de contrainte de fins fils de silicium

A. Metsue, C. Priester

10èmes Journées de la Matière Condensée, 2006, Toulouse, France. ⟨hal-00127118⟩

• Communication dans un congrès

Effets de contrainte sur la nucléation de boîtes quantiques de semiconducteurs sur substrat nanostructuré

C. Priester

10èmes Journées de la Matière Condensée, 2006, Toulouse, France. ⟨hal-00127065⟩

• Communication dans un congrès

Conception et réalisation de transistors HEMT AlGaN/GaN avec différentes topologies fieldplate

J.C. Gerbedoen, Ali Soltani, Brahim Benbakhti, Jean-Claude de Jaeger

10èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2006, Toulouse, France. ⟨hal-00128164⟩

• Article dans une revue

Surface polarization enhancement and switching properties of small ferroelectric particles

L. Baudry

Ferroelectrics, 2006, 333, pp.27-39. ⟨hal-00128183⟩

• Article dans une revue

Left-handed electromagnetic properties of split-ring resonator and wire loaded transmission line in a fin-line technology

T. Decoopman, A. Marteau, Eric Lheurette, O. Vanbésien, D. Lippens

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2006, 54, pp.1451-1457. ⟨hal-00126831⟩

• Communication dans un congrès

Analysis and modeling of substrate impedance network in RF CMOS

Emmanuel Bouhana, Patrick Scheerer, Samuel Boret, Daniel Gloria, Gilles Dambrine, Michel Minondo, Hervé Jaouen

This paper presents a new approach for analyzing and modeling the substrate impedance network in RF CMOS. Thanks to preliminary and proper de-embedding of known parasitics, the substrate network is directly identified. Using this approach on MOS transistors from 130 down to 65 nm technologies…

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, Mar 2006, Austin, TX, United States. pp.65-70, ⟨10.1109/ICMTS.2006.1614277⟩. ⟨hal-00126801⟩

• Communication dans un congrès

20GHz bandwidth digitizer for single shot analysis

H. El Aabbaoui, B. Gorisse, Jean-Francois Lampin, A. Benlarbi-Delaï, N. Rolland, V. Allouche, N. Fel, B. Riondet, P. Leclerc, P.A. Rolland

2006, 4 pp. ⟨hal-00126825⟩

• Communication dans un congrès

Bit and packet error rates for ad hoc networks based on up-converted IR-UWB signals at 60 GHz

H. El Ghannudi, Laurent Clavier, A. Bendjaballah, P.A. Rolland

2006, 5 pp. ⟨hal-00126828⟩